فلوئورسانس پرتو اشعه ایکس یا آنالیز XRF انتشار مشخصه “ثانویه” (یا فلوئورسنت) اشعه X از ماده ای است که با بمباران پرتوهای پر انرژی X یا پرتوهای گاما برانگیخته شده است.

پراش اشعه ایکس یا آنالیز XRD، دستگاهی است برای اندازه گیری فواصل صفحات اتمی یا به عبارتی شناسایی ساختمان مواد که نتیجه آن تعیین نام کانی یا کانی های تشکیل دهنده نمونه می باشد. دستگاه طیف سنج پراش اشعه ایکس XRD به طور وسیعی در شناسایی نمونه های مجهول جامد کریستالی مورد استفاده قرار می گیرد. از جمله مواردی که میتوان در XRD تعیین کرد تشخیص فاز کریستال، اندازه و شکل دانه کریستال، ترکیب اتمهای کریستال و ساختار آن و … میباشد. الگوی پراش اشعه X برای هر ماده، یکتا و منحصر به فردی میباشد.